當前位置:鉑悅儀器(上海)有限公司>>X-ray鍍層測厚儀>> M1 ORA布魯克 X射線鍍層測厚儀
M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀,結構緊湊、占用空間小。
M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素范圍:原子序數22號(鈦)以上的元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析,數分鐘內就可以得到結果。
樣品尺寸大可達100×100×100mm,無需處理,直接放在樣品臺上檢測,采用光學顯微鏡進行準確定位。
采用大感應面積的正比計數器接收樣品發出的熒光信號。采集的信號越多,分析結果越準確??梢詸z測含量在0.5的元素
基于標樣模型或無標樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的元素。準確度高,達到0.2wt對于沒有預想到的元素也能夠進行分析。
珠寶、黃金、貴金屬分析
X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析,同時能夠得到高準確度測試結果的分析方法
由于珠寶首飾件通常都非常的小,又有些是采用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內的準直器將激發的X射線集中于一小點。
行業應用:
X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用于大量的黃金合金系列,可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素
黃金成分范圍35(8克拉/K)~(24克拉/K)
適用于:白金、黃金、鉑合金、銀合金,分析精度優于0.2